光色電綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)各類光源進(jìn)行光、色、電等參數(shù)綜合檢測(cè)的設(shè)備，為標(biāo)準(zhǔn)配置機(jī)，廣泛應(yīng)用于LED企業(yè)來(lái)料品檢、研發(fā)檢測(cè)及企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)建設(shè)等場(chǎng)所。

　　整機(jī)采用合鋁金機(jī)箱，內(nèi)嵌高速處理器，10.1寸彩色液晶屏，全屏電容觸摸，方便人機(jī)交互。系統(tǒng)內(nèi)置高精度光譜分析儀，頻閃和啟動(dòng)測(cè)試儀，精密直流穩(wěn)壓恒流電源，精密交流變頻測(cè)試電源，高精度電參數(shù)測(cè)量?jī)x，一臺(tái)機(jī)器就是傳統(tǒng)的5臺(tái)機(jī)器組成的測(cè)度系統(tǒng)，無(wú)需要電腦即可直接操作使用。

　　本系統(tǒng)適用于LED、LED各種家具、LED熒光粉燈光色電綜合測(cè)試，滿足對(duì)光和顏色的測(cè)量要求，測(cè)試由軟件智能化控制完成，操作已簡(jiǎn)化，自校和檢驗(yàn)軟件使系統(tǒng)工作狀態(tài)，測(cè)試重復(fù)性好、準(zhǔn)確度高，使整個(gè)系統(tǒng)形成一個(gè)整體，美觀又方便，用于測(cè)試單顆LED、LED/LED背光源、等的相對(duì)光譜分布、色品坐標(biāo)、主波長(zhǎng)、峰值波長(zhǎng)、光譜純度、色溫、顯色指數(shù)、半寬度、光通量（配積分球），輻射功率、紅色比、色容差等參數(shù)，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)LED的瞬態(tài)光學(xué)特性測(cè)量（脈沖測(cè)量）及穩(wěn)態(tài)光學(xué)特性測(cè)量（直流測(cè)量）。

　　技術(shù)*性：

　　1、低雜散光。通過改良設(shè)計(jì)后高度匹配度的高精度光柵和科學(xué)級(jí)制冷型陣列探測(cè)器，并利用BWCT技術(shù)和雜散光校正技術(shù)，HAAS-2000的雜散可以比原有高精度 快速光譜儀的十分之一還要低。

　　2、寬線性動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍。與普通陣列探測(cè)器相比，科學(xué)級(jí)陣列探測(cè)器具有更寬的線性動(dòng)態(tài)范圍，且光學(xué)匹配改造設(shè)計(jì)后，儀器的動(dòng)態(tài)范圍進(jìn)一步拓寬。

　　3、快速。不僅可以測(cè)量光源的穩(wěn)態(tài)特性，而且可以測(cè)量它們瞬態(tài)光學(xué)特性，符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，在儀器的靈敏度范圍內(nèi)，無(wú)論被測(cè)光的瞬態(tài)脈沖多快（如小于微秒級(jí)），儀器均可以通過同步觸發(fā)功能實(shí)現(xiàn)快速的全光譜測(cè)量，采用科學(xué)級(jí)陣列探測(cè)器代替機(jī)械掃描系統(tǒng)，可以在較短的測(cè)量時(shí)間內(nèi)（毫秒級(jí)）完整完成精確測(cè)量整個(gè)光譜范圍。

　　4、光色電綜合測(cè)試系統(tǒng)集成了測(cè)試從單顆LED芯片到LED成品燈具的光色電性能測(cè)試所需要的精密直流電源、精密交流電源、光譜分析儀、光通量測(cè)試儀等設(shè)備，提升了測(cè)試功能及儀器的測(cè)試精度，人性話的操作比傳統(tǒng)儀器操作更簡(jiǎn)，方便了客戶的使用。

　　5、基于windows操作系統(tǒng)人機(jī)交換界面良好，可連接打印機(jī)打印測(cè)試報(bào)告，Excel保存數(shù)據(jù)，利于分析；可實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用，滿足光源的光色電各種性能測(cè)試與分析等相關(guān)試驗(yàn)，適用于實(shí)驗(yàn)室、質(zhì)檢部門研發(fā)測(cè)試，也可使用于生產(chǎn)線快速測(cè)試，自動(dòng)化集成度高，分檔設(shè)定。